在SMT的大生產(chǎn)中為保證品質(zhì)和降低成本，離不開在線測試。為了保證測試工作的順利進(jìn)行，PCB設(shè)計時應(yīng)考慮到測試點(diǎn)與測試孔(用于PCB及PCB組件電氣性能測試的電氣連接孔)的設(shè)計。

(1)接觸可靠性測試設(shè)計。測試點(diǎn)原則上應(yīng)設(shè)在同一面上,并注意分散均勻。測試點(diǎn)的焊盤直徑為09mm~1.0mm，并與相關(guān)測試針相配套。測試點(diǎn)的中心應(yīng)落在網(wǎng)格之上，并注意不應(yīng)設(shè)計在板子的邊緣5mm內(nèi)，相鄰的測試點(diǎn)之間的中心距不小于1.46mm，如圖所示。

測試點(diǎn)之間不應(yīng)設(shè)計其他元件，測試點(diǎn)與元件焊盤之間的距離應(yīng)不小于1mm，以防止元件或測試點(diǎn)之間短路，并注意測試點(diǎn)不能涂覆任何絕緣層，如圖所示。

原則上，測試孔可用工藝孔代替，但對拼板的単板測試時仍應(yīng)在子板上設(shè)計測試孔。

(2)電器可靠性測試設(shè)計，所有的電氣節(jié)點(diǎn)都應(yīng)提供測試點(diǎn),即測試點(diǎn)應(yīng)能覆蓋所有的I/0、電源地和返回信號，每一塊IC都應(yīng)有電源和地的測試點(diǎn)，如果器件的電源和地腳不止一個，則應(yīng)分別加上測試點(diǎn)，一個集成塊的電源和地應(yīng)放在2.54mm之內(nèi)，不能將IC控制線直接連接到電源、地或公用電阻上，對帶有邊界掃描器件的VLSI和ASIC器件，應(yīng)增設(shè)為實(shí)現(xiàn)邊界掃描功能的輔助測試點(diǎn)，如時鐘、模式、數(shù)據(jù)串行輸入/輸出端、復(fù)位端，以達(dá)到能測試器件本身的內(nèi)部功能邏輯的要求。